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最新產(chǎn)品——Hot Disk法導熱系數(shù)測試儀

我司自主研發(fā)，設計，制造的最新產(chǎn)品-Hot Disk法導熱系數(shù)測試儀正式面市！

DRE-2C導熱系數(shù)測試儀（瞬態(tài)平面熱源法）

DRE-2C導熱系數(shù)測試儀采用瞬態(tài)平面熱源法，主要測量固體、粉末、涂層、薄膜、各向異性材料等的導熱系數(shù)、導溫系數(shù)（熱擴散系數(shù)）和比熱。本儀器基于TPS瞬態(tài)平面熱源技術，用Hot Disk作為探頭的導熱系數(shù)測定儀。Hot Disk法的優(yōu)點有：(1)直接測量熱傳播，可以節(jié)約大量的時間；(2)不會和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響；(3)無須特別的樣品制備，只需相對平整的樣品表面。

 主要技術指標：

1、導熱系數(shù)測定范圍：0.01—100W/mk

2、測量時間：1-600秒

3、準確度：優(yōu)于5％

4、溫度范圍：標準測量：室溫，（可根據(jù)客戶要求選配各種溫度段的測試溫度，費用另計：如-20℃～120℃）

5、樣本尺寸：大于15mm高，大于直徑45mm相對平整的樣品表面